IEC 62321是国外安装电工常务委会(IEC)制定方案的管于电子设备机电商品中限用造成损害成分的测量方案 。IEC 62321：2008都是个‘独立性’的标淮 ，另外比如简单介绍、测量方案、物理制样的概况、及其各种各样测量方案的条款英文 。201四年五月17号开启将IEC 62321：2008拆成为一题材标淮 ，同一时间使用新的测量方案或器材 ，情况给出 。
已游戏更新产品系列标淮
201五年
nIEC 62321-1 简绍和简述
文件名称反映：代替2008版要求二到四每章
核心变动：总体不同
nIEC 62321-2 样本的取下、拆除和机械制造分拆
文件目录就说明：代换2008版准则5一章
其主要不同：一般完全一致
nIEC 62321-3-1 电子器材厂品中的铅、汞、镉、总铬和总溴的筛分
文件夹说：用作2008版规定六章目
重要变现：关键相符
nIEC 62321-3-2 运用C-IC对缔合物和電子物料中的总溴对其进行挑选
文件资料原因分析：划分第一章
一般变现：2013版提高了新的方法步骤（C-IC）
nIEC 62321-4 适用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定配位高聚物、废金属和手机相关材料中的汞
程序表明：混用2008版规格7章回并新开文章
具体发生改变：2013版上升了新的工艺（热解释金汞齐化模式）
nIEC 62321-5 在使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS判断缔合物和智能电子用料中的汞、镉、铅和铬 ，、金属质中的镉和铅
材料说明书：换用2008版标准规定八至十节章并新增的项目
基本发生变化：2013版增长了总铬的各种测试需要及新的的检测方案（AFS）
202007年
nIEC 62321-6 运行GC-MS、IAMS和HPLC法测汇聚物和电子技术原料中的多溴联苯 和多溴二苯醚
程序证明：替代品2008版条件附表A并汇总内部
其主要发生改变：2015版提高了新的论文检测的方法（IAMS/HPLC）
nIEC 62321-7-1 凭借比色法测定方法金屬无色透明和彩色防水镀后中六价铬
文件格式就说明：重复使用2008版规范标准绪论B
常见变：有关于六价铬的前除理及上机测试英文区域未做变更 ，对可是的阴性化化阳型辨别原则换成小于等于0.1µg/cm2阴性化化、以上0.13µg/cm2阳型、0.1µg/cm2~0.13µg/cm2不判断
待公布全系列标淮
16年
nIEC 62321-4 am1 1.0
利用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS判断高分子物、金属制和电子元器件文件中的汞
nIEC 62321-8 1.0
凭借GC-MS检验100原子村料中的相应邻苯二甲酸盐
201七年
nIEC 62321-7-2 1.0
顺利通过比色法检测法缔合物和电子厂原料中的六价铬
nIEC 62321-9 1.0
能够HPLC-MS旋光度的测定好成绩子产品中的六溴环第十二烷
2015年
nIEC 62321-3-2 2.0
利用C-IC对整合物和光电新产品中的氟、溴、氯采取筛分
nIEC 62321-3-3 1.0
用PY-GC-MS、TD-GC-MS对缩聚物中的多溴联苯、多溴二苯醚、某些邻苯二甲酸盐通过挑选
nIEC 62321-10 1.0
经过GC-MS旋光度的测定高分子物和电子设备板材中的多环芳烃
注: C-IC 焚烧正离子色谱法 ;
PY-GC-MS 热裂解气质联用色谱质谱联用仪
IAMS 亚铁离子粘附质谱法
TD-GC-MS 热脱附气相色谱仪仪色谱质谱联用仪
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