物(化) 性失效分析 PFA 

Decap 清晨雨Bare Die Extraction 取晶体De-layer/De-process 去层生理学Staining-Rom Code 码点刺绣Staining-P/N 阱上色Staining-Resistor zone 热敏电阻刺绣De-Gold Bump 去金凸块 

金相分析 

精密机械指定地点及非指定地点研磨机制样 / 金相切开显分子运动察数据分析（Lieca DM8000分光光度计干涉现象150X、Hitachi S4800 冷场释放出电镜+ EDS）        

电性失效分析 EFA 

EMMI 微光显微全面检查LC Hot Spot 液晶电视机火热侦测OBIRCH 镭射激光束促使阻值变现測試Probe Station 检测器适用   

FIB聚焦离子束应用

微高压线路修改游戏公测键合成Cross-SectionVC精密工艺裁切及工艺 

无损侦测 

X-Ray + 3D CT（立体断裂带扫面技术设备）C-SAM 扫描器超音波波 

芯片逆向工程及工艺评估

完成的同向构思构思能够 随着版本更新已经构思构思思维  ，解决构思构思疵点 。反相构思构思对于是一种辅助方式方式  ，能够 帮到线路构思构思工程建设师在多日间里积累了够多的构思构思临床经验并开发技术适用自个构思构思总体水平的生产工艺技术参数  ，有用应对高风险、延长速度 。也可帮到构思构思平台改善类好产品竞争者力  ，即为呵护自主性类好产品知识与技能土地使用权作为有用视听资料 。 

静电放电/闩锁效应测试 

ESD-HBM 躯干玩法ESD-MM 机充放电机制ESD-CDM 能充电元器材传统模式Latch-Up 闩锁调节作用測試 

材料分析

AES 俄歇电子无线能谱仪appAFM 分子力高倍显微镜应用软件EELS 光电能量场亏损概述仪采用FT-IR 傅立叶红外体视显微镜使用              SEM/EDS 检测电子器材光学显微镜/XX射线能谱仪运用SIMS 三次亚铁离子能谱仪（专项 指指定地点/非指指定地点制样、属性分折）TEM 散发出电镜（定时/非定时制样及上机观察植物）TOF-SIMS 航空耗时再次阳离子质谱应用XPS XX射线光学子能谱仪使用 

可靠性测试

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